PicoQuant - It's about time.

软件

SymPhoTime 64

荧光寿命成像和相关(Correlation)测量软件

  • 高性能64bit TTTR数据采集和分析软件
  • 单点,2D,和3D的TTTR数据采集,包含有可在线预览FLIM,FCS,time trace和TCSPC数据的功能
  • FLIM,快速FLIM,FLIM-FRET
  • FCS,FCCS,FLCS,PIE-FCS,符合相关,总相关
  • FRET,PIE - FRET
  • 荧光时间轨迹分析,单分子burst分析
  • 各向异性
  • TCSPC寿命拟合,包括先进的误差分析
  • 基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能

SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件,它被用来控制MicroTime 200MicroTime 100,及LSM升级系统这三种显微共聚焦系统,和其他TCSPC设备。该软件需要在64位操作系统下工作,拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰,功能强大,使用户可以更高效的获取数据分析结果,并可以通过Workspace模式更加直观的管理数据。最后,通过基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能,用户可以任意改变分析和测量的具体步骤。

使用PicoQuant TCSPC模块测量数据

SymPhoTime 64专门为与PicoQuant时间分辨共聚焦显微系统联用而设计,例如MicroTime 200MicroTime 100以及LSM升级系统。同时,还可以与各种基于PicoQuant TCSPC设备搭建的自建系统联用。SymPhoTime 64软件具有独特的时间标记模式,在这个模式下,每个通道探测到的所有光子的绝对抵达时间都被记录,这样,基于这样详尽的数据信息,用户可以进行从简单的TCSPC柱状图分析,到复杂的寿命成像和相关分析。

SymPhoTime 64 - data acquisition

专业化的成像分析

使用SymPhoTime 64分析成像数据,简单而有效。其操作界面包含有许多标准的成像分析模块,例如FLIM,FRET和各向异性分析。用户可以根据分析需求选择对应的专业数据分析方向,从而得到准确的数据。

SymPhoTime64 - FLIM-FRET analysis

超快的软件相关器

SymPhoTime 64在荧光相关光谱方面有专门的分析模块。这些围绕相关分析的拟合模块包括:经典的自相关荧光相关光谱(FCS),互相关光谱(FCCS)和总相关分析。而通过时间标记模式,符合相关的分析也是可以做到的。得益于当前多核处理器的强大性能,SymPhoTime 64是当前最快的软件相关器。

SymPhoTime 64 - FCS analysis

强度Time trace分析

荧光强度Time trace分析是SymPhoTime 64另一项主要功能。荧光强度Time trace包含有荧光动态学信息,可以从多方面进行分析,例如ON/OFF柱状图分析,爆发量柱状图,以及荧光寿命Trace分析。

SymPhoTime64 - Time trace analysis

STED超分辨

SymPhoTime 64支持基于MicroTime 200的超分辨STED系统。不同的数据采集功能以及STED专用激光的操作界面都集成到了SPT 64中。在数据采集的同时,STED成像和时间 - 门控下的gSTED图像可以在线显示。图片后续处理模块,包括gSTEDPattern Matching可以被用来进一步提升STED分辨率。软件同时还具有STED - FCS功能。

SymPhoTime 64 - STED analysis

软件版本

该软件目前有5种版本,每种对应不同的需求:

  • SPT64 1A "SymPhoTime 64": 支持单点测量
  • SPT64 1 "SymPhoTime 64": 支持单点测量及数据分析
  • SPT64 2 "SymPhoTime 64": 支持2D和3D数据采集及分析
  • SPT64 1+2 "SymPhoTime 64": 完整版
  • SPT64 1+2+3 "SymPhoTime 64": STED版完整版

当前软件版本:2.8

最新版本支持 PicoHarp 330,支持 ASCII ROI 的导入/导出,以及在点测量期间手动调整激光位置。

Download SymPhoTime 64, version 2.8


数据采集

可联用TCSPC模块

HydraHarp 400, PicoHarp 300, PicoHarp 330, TimeHarp 260, MultiHarp 150, MultiHarp 160, TimeHarp 200 (仅限数据导入!)

可联用荧光系统

MicroTime 200
MicroTime 100

激光扫描显微系统 (LSM),支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌
单独的 TCSPC模块
通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)

探测通道数量

1到 8 detectors

采集模式

单点采集,多点采集,2D成像(XY,XZ,YZ),3D成像(XYZ),定时成像(XYT),用于调节系统时使用的示波器模式

采集预览

FLIM, FCS, FLCS和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图
最多同时在线显示4种数据

自动化测量

Z轴逐层成像,定时成像,图片缝合,多点测量

硬件控制

PDL 828 "Sepia II"激光驱动器
E-710, E-725, E-727(Physik Instrumente)

MicroTime 200的快门系统
宽场荧光相机 IDS uEye USB3

数据分析

总体特点

时间门控
Binning

TCSPC binning
TCSPC拟合(1到5多指数衰减拟合)

最小平方拟合,最大可能性估算拟合,IRF解卷积拟合,尾部拟合,自举误差分析

TCSPC曲线的全局化分析

图形化交互界面

成像

FLIM, FLIM-FRET,荧光强度FRET,各向异性成像, (时间门控)荧光强度成像

Pattern Matching,快速Pattern Matching
可调寿命颜色分配及对比度
特定区域分析 (ROI)

相关分析

FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS
STED-FCS, STED-FLCS
FCS拟合 (拟合模型:扩散常数,三重态,构象分析,质子化,高斯PSF,用户自定义,自举误差分析)
全局分析
FCS校准
反聚束/符合相关,总相关

FRET

PIE (脉冲交错激发)
渗滤校正
FLIM-FRET

STED

STED,门控STED, STED-FLIM,交错脉冲 STED及共聚焦,分辨率估计

荧光强度Trace

分子闪烁(On/Off柱状图),计数率柱状图 (PCH),爆发量柱状图,强度门控制TCSPC,荧光寿命 Traces,寿命柱状图, BIFL

稳态各向异性

包含物镜校正系数

导出数据格式

BMP, ASCII, TIFF, BIN

用户自定义脚本编译 (STUPSLANG)

用户自定分析步骤,拟合功能,多条件筛选
整合控制外部其他器件

电脑CPU规格要求

四核或更高

CPU主频

2.2 GHz (或更高)四核 CPU

内存容量

最小4 GB (推荐16/32 GB)

操作系统

Windows 10 x64

硬盘容量

>= 100 MB (不包括数据存储)

显示器

Full HD Display

加密方式(HASP)

USB

荧光寿命成像和相关软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验,如:

  • 时间分辨荧光
  • 荧光寿命成像(FLIM)
  • 磷光寿命成像(PLIM)
  • 荧光相关光谱(FCS)
  • 荧光寿命相关光谱(FLCS)
  • 荧光共振能量转移(FRET)
  • 超分辨显微(STED)
  • 双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)
  • 脉冲交错激发(PIE)
  • 单分子探测/光谱学
  • Pattern Matching分析
  • 时间分辨磷光(TRPL)
  • TRPL成像
  • 镧化物上转换
  • 反聚束

Version features

SPT64 1A

SPT64 1

SPT64 2

SPT64 1+2

SPT64 1+2+3

数据采集

直接通过 TimeHarp 260, PicoHarp 300 HydraHarp 400采集TTTR数据




控制Physik Instrumente平移台



对激光扫描显微镜 (LSM)的支持及其他扫描台联用



STED 成像, STED-FLIM, STED-FCS


路由多通道支持






多单点采集



数据分析

时间门控功能






TCSPC寿命柱状图拟合(最高5阶指数)

包括尾部拟合,解卷积拟合分析,最大相似估计法及自举误差分析






荧光寿命成像 (FLIM)

包括在线成像,特定区域分析, 最大相似估计法和bitmap格式导出




Pattern Matching, 快速Pattern Matching



荧光相关光谱 (FCS)

包括脉冲交错激发模式,及带有自举误差分析法的FCS拟合




荧光寿命相关光谱 (FLCS)





实时FCS计算和Time Trace显示 ("在线 time traces", "在线-FCS")




总相关





荧光共振能量转移 (FRET)

包括脉冲交错激发(PIE), 及直接激发和渗滤校正





STED成像, STED FLIM, 门控STED, 脉冲交错 STED 和共聚焦, 分辨率估算


多通道复用分析寿命和强度 time traces





BIFL分析





On/Off时间柱状图及分析





爆发量柱状图





PCH光子计数柱状图的计算





ASCII格式数据导出





脚本编译("STUPSLANG")